সাধারণ প্রয়োগসমূহ:
সেমিকন্ডাক্টর পরিদর্শন– ওয়েফারের পশ্চাৎভাগ পরিদর্শন, টিএসভি (থ্রু-সিলিকন ভায়া) পরিমাপ, লেজার ডাইসিংয়ের পর ত্রুটি পর্যালোচনা
ব্যর্থতা বিশ্লেষণ– ভূগর্ভস্থ কাঠামো পরিদর্শনের জন্য সিলিকন স্তরের মধ্য দিয়ে অবিনাশী চিত্রগ্রহণ
লেজার প্রক্রিয়াকরণ– পদার্থ বিজ্ঞান ও উৎপাদনে ১০৬৪ ন্যানোমিটার ফাইবার লেজার অ্যাবলেশন, ড্রিলিং বা ওয়েল্ডিংয়ের রিয়েল-টাইম পর্যবেক্ষণ
ধাতুবিদ্যা ও পদার্থ বিজ্ঞান– লেজার তাপ-প্রভাবিত অঞ্চল, পুনঃঢালাই স্তর এবং অণুসজ্জার উচ্চ-রেজোলিউশন পরিদর্শন
এনআইআর ফ্লুরোসেন্স মাইক্রোস্কোপি– জৈবিক বা বস্তুগত নমুনার জন্য যেখানে নিয়ার-ইনফ্রারেড উদ্দীপনার প্রয়োজন হয়